可控硅测试仪的伏安特性和触发特性是晶闸管的zui基本特性，这些特性的好坏，直接影响到器件在整机上的正常使用。因此，
可控硅测试仪检测晶闸管的伏安特性和触发特性在晶闸管器件的生产、经销及使用过程中都是十分重要的。测试以上参数通常由晶闸管伏安特性测试仪和晶闸管门极触发特性测试仪完成，测试伏安特性参数时还需另配一台示波器观看伏安特性曲线，以上三台仪器常规价在7000—10000元以上，且台数多、占地大、操作不方便。我们根据广大用户的需求，现研制出将以上三台仪器作在一起的晶闸管伏安特性、触发特性综合测试仪。
可控硅测试仪能以毫安级电流控制大功率的机电设备，如果超过此频率，因元件开关损髦显著增加，允许通过的平均电流相降低，此时，标称电流应降级使用。
可控硅测试仪扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。可控硅测试仪面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
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更新时间：2024-11-25 
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